概览
纳米教学领域的领先优质AFM
一体化的即插即用的袖珍AFM系统
使用简单,众所周知
所有的标准操作模式都可用
NaioAFM 是纳米教学和小样品基础研究的理想原子力显微镜。 这一一体化的袖珍AFM系统提供了优质可靠的性能却操作方便,价格亲民,结构小巧,适用于广泛场合。
几分钟内就可以开始测量
使用NaioAFM, 仅需插上电源和USB线,启动界面友好的软件,几分钟内就可以开始工作,省掉了仪器设置的时间和麻烦,观看我们的OVERVIEW 视频你就可以知道。 因为NaioAFM带有悬臂校准芯片,悬臂更换也变得更加简单,繁琐激光校准也是过去式了。 观看悬臂更换视频你就可以发现换针是如此的方便。
用户的体验
Prof. Dr. Nancy Burnham
NaioAFM让新用户在短短2小时内就得到有意义的AFM图和数据, 在一些时间必须紧凑安排的课上,当只允许安排12小时实验室时间,NaioAFM的省时性就是一个明显的优势,和其他仪器相比,它可让我们省2到3倍的时间。
这里由Dr. Nancy Burnham提供的 12 个视频展示了NaioAFM 如何在伍斯特理工学院物理系原子力显微镜课上使用的
AFM 模式
NaioAFM 成像模式
以下描述为仪器所具备的所有模式。某些模式可能需要其他组件或软件选项。详情请浏览宣传册或直接联系我们。
标准成像模式
静态力模式
动态力模式(轻敲模式)
相位成像模式
磁性能
磁力显微
电性能
导电探针 AFM (C-AFM)
静电力显微 (EFM)
扫描扩散电阻显微(SSRM)
机械特性
力谱
力调制
刚度和模量
附着力
力映射
其它测量模式
光刻和纳米加工
应用
NaioAFM的应用示例
聚合物混合物的 AFM 相位成像
这是在 NaioAFM 上看到的聚合物混合物的 AFM 相位成像示例。聚合物混合物由沉积在硅上的聚苯乙烯(PS)和聚氯二苯乙烯(PB)组成。PS 在 PB 矩阵中形成孤岛。
相位反馈由覆盖在3D形貌的颜色来显示。PB的混入于PS岛可由相位信号测出。
数据处理: Gwyddion
图尺寸: 20 µm
相位范围: 15 度
相位反馈与PS-PB混合物的形貌同时记录
数据处理: Gwyddion
探针: PPP-NCSTR
图尺寸: 20 µm
高度范围: 15 度
用AFM进行ePTFE膜表面形貌分析
ePTFE是膨胀聚氟乙烯的缩写,也称为Teflon。它的机械和医学特性很大程度上取决于Teflon是如何膨胀的(单轴或双轴)以及由此产生的ePTFE网络结构。 ePTFE由于其在人体内的惰性特性,常被用作植入材料。网状结构中的空隙鼓励软组织生长到这样的植入体中,这有助于快速地保持植入体的位置。聚四氟乙烯有许多不同的膨胀方式,都会导致不同的网络结构。因此,至关重要的是要验证在膨胀过程之后是否获得了所需的ePTFE结构。
在此应用中,我们使用AFM对ePTFE膜进行了分析。所记录的形貌图像清楚地显示了样品复杂的网络结构。利用集成在Nanosurf控制软件中的测量工具,可以方便地分析纤维的长度和结的尺寸分布。
与传统的分析方法-扫描电镜成像法SEM相比,金膜必须首先在真空中蒸发到 ePTFE 样品上,使其导电才能进行操作 - 用AFM 则快得多,也更容易执行。使用AFM,可以直接在ePTFE上测量,无需事先对样品进行处理。此外,与 SEM 数据相比,AFM 形貌图实际上包含定量的深度信息。
AFM 力谱仪用于聚合物分析
装有AFM的力谱仪可以对聚苯乙烯(PS)和聚丁二烯(PB)聚合物进行表征.数据分析或一组力距离曲线揭示了这两种成分材料性能的差异。
PS-PB 聚合物的3D形貌叠加于由力-距离曲线导出的刚度分布图。从力距离曲线推导样品刚度用的是DMT模型。
数据处理: SPIP 和Gwyddion
探针: PPP-NCSTR
图尺寸: 15 µm
刚度范围: 4 GPa (对数刻度)
PS-PB 聚合物的3D形貌叠加于由力-距离曲线导出的附着力分布图。
数据处理: SPIP 和 Gwyddion
探针: PPP-NCSTR
图尺寸: 15 µm
最大附着力范围: 20-40 nN
PS-PB聚合物样品的不同区域的力-距离曲线。 顶部和底部面板分别显示 PB(顶部)和 PS(底部)上记录的力距离曲线。中图中的形貌图像中的箭头指示记录力距离曲线的位置。如顶图所示,可以从力距离曲线中提取不同的信息:接触区域的斜率、样品压痕、最大附着力,以及分离所需的功。斜率本身是样品刚度的粗略估计,即 PB 比 PS 软得多,因为接触区域的斜率较浅(参见红色三角形)。使用接触力学模型(如 DMT 模型)分析力距离曲线可显示样品的实际刚度。
附加选项和组件
附加选项和组件
侧视摄像头
USB数码侧视摄像头有1280 x 1024像素传感器和2 x 2 mm 视野。此侧视摄像头装在NaioAFM的顶部,在控制软件上显出侧面视图。 它可帮助用户观察在手动或自动趋近时微悬臂到样片的距离。
防震隔离台 300
用Nanosurf的防震隔离台可实现无震动干扰的测量
各种模式套件
- 动态力模式盒
- EFM模式盒
- 力调制模式盒
- 相位成像模式盒
- 标准光刻模式盒
- 标准MFM 模式盒
- 标准光谱模式盒
- 静态力模式盒
浏览网上商店
AFM 扩展样片套件
AFM 扩展样品套件包括10个不同学科的样本以及样品处理工具。该工具包附有一份详细的手册,既可支持课程开发,也可用作每次测量的课堂指南。
技术参数
扫描头 |
|
最大扫描范围 / 扫描高度 (分辨率) (1) |
70 µm (1.0 nm) / 14 µm (0.2 nm) |
静态 / 动态 RMS Z-噪音 |
典型值 0.4 nm (最大 0.8 nm) / 典型值 0.3 nm (最大 0.8 nm) |
最大样片尺寸 / 高度 |
12 mm / 3.5 mm |
最大样片台定位范围 |
最大每个方向12 mm (从中心到四面 6 mm ) |
顶视摄像头 |
3×3 mm FOV, 4× 数字变焦, 2 µm 光学分辨率, 2048×1536 像素, 轴内 LED 照明 |
侧视图观察 |
5×5 mm FOV, 可变 LED 照明(可选侧视图摄像头: 2×2 mm FOV, 1280×1024 像素) |
样品趋近 |
4 mm 线性马达, 连续趋近或步进 |
(1) 制造公差 ±10% |
扫描头尺寸