根据要求为您专门设计的原子力显微镜系统
概览
关于我们的订制流程
随着原子力显微镜不断进入越来越多的应用领域,特别是在工业,生产工艺和质量控制领域,标准的原子力显微镜系统往往不适合新的任务。在这些情况下,当您需要将原子力显微镜完全集成到一个工艺过程中,或者您的样品太大而无法采用标准设备测量时,Nanosurf提供设计和开发订制化原子力显微镜系统和移动台的独特服务,使您可以在执行精准测量的同时对已建立的工艺流程的干扰小。
在与您的密切合作和持续对话中,我们的仪器开发团队将根据您的具体需求设计和构建一个系统。请与我们联系,先说明您的需求,我们很高兴再与您深入讨论您的项目。
在您第一次联系我们并提出订制项目请求后,我们会集合您的项目团队和我们的专业工程师一起组织一个启动会议,以充分了解您的需求。在此基础上,Nanosurf提出解决方案的概念,并准备报价。下一步是共同讨论我们的解决方案的细节。当您根据我们的订制化方案和报价下订单时,我们的工程师将与我们合作伙伴密切合作开发并构建这一解决方案。后,我们对系统进行测试,交付并安装。
参考项目
参考项目
Nanosurf为不同行业、不同规模、不同应用领域的客户实现了多种订制化解决方案。浏览选定的案例项目,可以了解到我们的一些方案。即使您没有找到与您的项目类似的案例,不要犹豫,请与我们联系并讨论您的需求。我们经验丰富的研发团队期待着为新的和令人兴奋的订制项目找到巧妙的解决方案。
光学显微镜的微米移动台
Dr. Philipp Merkelbach对Nanosurf的订制服务的看法
“我们因为一个麻烦联系了Nanosurf,他们给我们展示了解决方案”
Nanosurf胜任了以极高的准确度实现我们的订制项目。关于Rodenstock需求的讨论以及Nanosurf的设计方案和建议的讨论都有着开放的氛围,并证明对双方都非常有成效。虽然在下订单的时候设计还不是100%固定的,但是时间表和预算都在报价之内。结果仪器的易用性和快速校准在我们的用户中非常受欢迎。
这个订制项目的要求是允许使用光学显微镜(使用倒置显微镜)和AFM (FlexAFM)检查样品的相同区域。该解决方案通过将样品– 玻璃透镜 – 固定在样品架上来实现这一点,该样品架可以从一个仪器台转移到另一个仪器台,具有很高的再定位精度。
电动XYZΘΦ平移和测角仪平台
这一订制的平台是为非常精确的样品校准和湿度控制量身定做的,以使样品平面相平于 FlexAFM 原子力显微镜。FlexAFM扫描头本身进行了修改,以匹配订制的平台尺寸。加入了一个特别订制的支架,使它可以用于软光刻。
描述 | 规格 |
---|---|
最大路径 XYZ / ΘΦ: | 72 mm; 46 mm; 5 mm / ± 5° |
步长 XYZ / ΘΦ: | 50–1000 nm / 0.16–1.6 mdeg |
分辨率 XYZ / ΘΦ: | 0.3 µm / 0.3 mdeg |
再定位精度: | σ = 1 µm / σ = 1 mdeg |
绝对精度: | ± 10 µm / ± 20 mdeg |
最大速度: | 13 mm/s / 4 deg/s |
样品台尺寸: | 75 × 50 mmm |
样品大小: | max. 75 × 50 × 13 mm |
样品重量: | max. 150 g |
转移台尺寸: | 204 × 204 × 132 mm (无环境控制室) |
转移台重量: | 大约. 5 kg (无环境控制室) |
转移台技术: | 压电粘滑电机 |
具有可变Z范围的电动XY平移台
这一用于 NaniteAFM原子力显微镜的订制电动平移台是专为可重复放置具有可变厚度的样品而订制的。
电动XY移动台
这一用于 NaniteAFM原子力显微镜的订制电动移动台是专为简单的操纵杆操作和特定行程范围而订制的。.
多功能探针底座
这一 带柔性电路的FlexAFM 探针底座是为方便更换和使用微接触智能悬臂而设计的。.
大型样品台
大型样品台
所有大型样品台的示例都是首先作为订制项目实现的。您现在可以将它们看作是可能实现的示例,如果其中一个解决方案满足您的需求,我们可以将其提供给您,如图所示。
用于超大样品的XYZ三轴自动移动台
这种高负荷,高精度的订制平台解决方案专为超大型样品而设计,是尖端工程技术的一个典范。长度超过2米,宽度1.45米,重量超过2吨,是有史以来最大的移动台之一。该系统使用空气轴承,传动带和步进电机进行样品定位,是为使用NaniteAFM原子力显微镜而设计的。
重载荷XYZ三轴自动移动台
考虑到大样本,这个高负载、高精度、低噪声的移动台拓展了样本台性能的边界。具有气动升降/锁紧机构,提升时行程方便,锁紧时测量稳定。此设置集成了大行程范围,重载荷和主动隔振。该系统是为配合使用NaniteAFM原子力显微镜而设计的。
电动XZΘ移动台
描述 | 规格 |
---|---|
最大路径 XZ / Θ: | 250 mm; 60 mm / 100 deg |
步长 XZ / Θ: | 50–1000 nm / 0.16–1.6 mdeg |
分辨率 XZ / Θ: | 0.3 µm / 1 mdeg |
再定位精度: | σ = 1 µm / σ = 3 mdeg (σ = 8 µm for all axes combined) |
绝对精度: | ± 10 µm / ± 25 mdeg |
最大速度: | 13 mm/s |
样品台尺寸: | Ø400 mm |
样品台尺寸旋转: | 360° 手动 |
样品大小: | max. Ø380 mm x 220 mm |
移动台尺寸: | 450 × 550 × 460 mm |
移动台重量: | 75 kg |
移动台技术: | 压电粘滑电机 |
噪声等级: | < 0.5 Å (NaniteAFM 10-µm 扫描头在安静环境中) |
这个订制的移动台结构用来在大的凹凸样品上进行粗糙度测量。它具有样品平台的360°全手动旋转和扫描头的自动旋转,以适应各种样品的弯曲形式。该平台设计使用NaniteAFM原子力显微镜 。