硬盘上比特的MFM

此处显示的测量由Nanosurf Mobile S大型扫描头执行。样品是一个10GB单头3.5" 硬盘,磁化于轨道距离为600 nm 位长为70 nm 的介质平面中，对应于42k TPI和363k BPI。

Nanosurf Mobile S可以在MFM（磁力显微镜）成像模式下成像杂散磁场。在此模式下，通过感测杂散场施加在有磁性涂层的悬臂末端上的磁力来检测杂散场。该力引起悬臂共振频率的变化，从而改变悬臂振动的相位。MFM图像是通过在扫描平行于同一位置但距样品几纳米的平面时记录相位对比度图像来测量的。