用STM观测抛光铜表面 将一个简单的铜片抛光并随后用纯乙醇清洁。该STM观测是在环境条件下以1nA的隧穿电流和50mV的施加间隙电压进行的。 可以观察到抛光造成的亚微米级划痕和多晶微片。 阅读应用笔记(PDF)
