AFM 模式

NaioAFM 成像模式

以下描述为仪器所具备的所有模式。某些模式可能需要其他组件或软件选项。详情请浏览宣传册或直接联系我们。

应用

NaioAFM的应用示例

聚合物混合物的 AFM 相位成像

这是在 NaioAFM 上看到的聚合物混合物的 AFM 相位成像示例。聚合物混合物由沉积在硅上的聚苯乙烯(PS)和聚氯二苯乙烯(PB)组成。PS 在 PB 矩阵中形成孤岛。

相位反馈由覆盖在3D形貌的颜色来显示。PB的混入于PS岛可由相位信号测出。
数据处理: Gwyddion
图尺寸: 20 µm
相位范围: 15 度

相位反馈与PS-PB混合物的形貌同时记录
数据处理: Gwyddion
探针: PPP-NCSTR
图尺寸: 20 µm
高度范围: 15 度

用AFM进行ePTFE膜表面形貌分析

ePTFE是膨胀聚氟乙烯的缩写，也称为Teflon。它的机械和医学特性很大程度上取决于Teflon是如何膨胀的(单轴或双轴)以及由此产生的ePTFE网络结构。 ePTFE由于其在人体内的惰性特性，常被用作植入材料。网状结构中的空隙鼓励软组织生长到这样的植入体中，这有助于快速地保持植入体的位置。聚四氟乙烯有许多不同的膨胀方式，都会导致不同的网络结构。因此，至关重要的是要验证在膨胀过程之后是否获得了所需的ePTFE结构。

在此应用中，我们使用AFM对ePTFE膜进行了分析。所记录的形貌图像清楚地显示了样品复杂的网络结构。利用集成在Nanosurf控制软件中的测量工具，可以方便地分析纤维的长度和结的尺寸分布。

与传统的分析方法-扫描电镜成像法SEM相比，金膜必须首先在真空中蒸发到 ePTFE 样品上,使其导电才能进行操作 - 用AFM 则快得多，也更容易执行。使用AFM,可以直接在ePTFE上测量,无需事先对样品进行处理。此外,与 SEM 数据相比,AFM 形貌图实际上包含定量的深度信息。

AFM 力谱仪用于聚合物分析

装有AFM的力谱仪可以对聚苯乙烯(PS)和聚丁二烯(PB)聚合物进行表征.数据分析或一组力距离曲线揭示了这两种成分材料性能的差异。

PS-PB 聚合物的3D形貌叠加于由力-距离曲线导出的刚度分布图。从力距离曲线推导样品刚度用的是DMT模型。
数据处理: SPIP 和Gwyddion
探针: PPP-NCSTR
图尺寸: 15 µm
刚度范围: 4 GPa (对数刻度)

PS-PB 聚合物的3D形貌叠加于由力-距离曲线导出的附着力分布图。
数据处理: SPIP 和 Gwyddion
探针: PPP-NCSTR
图尺寸: 15 µm
最大附着力范围: 20-40 nN

PS-PB聚合物样品的不同区域的力-距离曲线。 顶部和底部面板分别显示 PB(顶部)和 PS(底部)上记录的力距离曲线。中图中的形貌图像中的箭头指示记录力距离曲线的位置。如顶图所示,可以从力距离曲线中提取不同的信息:接触区域的斜率、样品压痕、最大附着力,以及分离所需的功。斜率本身是样品刚度的粗略估计,即 PB 比 PS 软得多,因为接触区域的斜率较浅(参见红色三角形)。使用接触力学模型(如 DMT 模型)分析力距离曲线可显示样品的实际刚度。

附加选项和组件

附加选项和组件

侧视摄像头

USB数码侧视摄像头有1280 x 1024像素传感器和2 x 2 mm 视野。此侧视摄像头装在NaioAFM的顶部，在控制软件上显出侧面视图。 它可帮助用户观察在手动或自动趋近时微悬臂到样片的距离。

防震隔离台 300

用Nanosurf的防震隔离台可实现无震动干扰的测量

各种模式套件

• 动态力模式盒
• EFM模式盒
• 力调制模式盒
• 相位成像模式盒
• 标准光刻模式盒
• 标准MFM 模式盒
• 标准光谱模式盒
• 静态力模式盒

浏览网上商店

AFM 扩展样片套件

AFM 扩展样品套件包括10个不同学科的样本以及样品处理工具。该工具包附有一份详细的手册,既可支持课程开发,也可用作每次测量的课堂指南。

技术参数

 

 下载产品手册

 

扫描头尺寸