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扩展您光学显微镜的分辨率

Nanosurf LensAFM是一款镜头式原子力显微镜，是一个当光学显微镜和轮廓仪达到其分辨率极限时可以帮您继续探究的原子力显微镜。它可以像常规物镜一样安装，从而扩展了这些光学仪器的分辨率和测量能力。 LensAFM不仅提供3D表面形貌信息，还可用于分析被测样品的各种物理特性。

 

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用你常用的仪器进行AFM测量

在越来越多的情境下，研究人员希望结合光学和原子力显微镜技术。光学显微镜的易用性，筛选能力和（无）样品制备要求几乎是非常简单的。然而，有时目标放大100倍的是不够的，您想更仔细地观察一些超出仪器分辨率的微小特征。在常规实验室环境中，您需要两个专用仪器，并且有必要将样品从一个设备转移到另一个设备。使用LensAFM则不必如此。凭借其极小的设计和巧妙的安装机制，您需要做的就是旋转光学显微镜或轮廓仪上的转盘并运行扫描。

LensAFM将完美地集成到您的工作流程中：将其安装在光学显微镜的转盘上 - 就像常规物镜一样 - 您可以使用正常物镜选样品以找到感兴趣的区域。随后，使用集成的8倍光学镜头可以再次定位该区域，然后您可以执行AFM测量以获得更高分辨率的3D信息：以您惯有的方式工作，分辨率和功能却得到极大提升。

LensAFM具有快速卸载机制，可轻松地将LensAFM安装到转台和从转台卸下。可调安装保证您可以以高于10μm的精度更换它。芯片安装座上的对准凹槽还可确保下一个微悬臂的尖端位于相同位置的4μm范围内，即使在微悬臂更换后也能再次回到相同的特征值。由于这些对准凹槽，您甚至不需要在微悬臂上执行激光对准，从而节省了额外的时间。

LensAFM 为您的光学显微镜带来了所有这些测量功能，无需重新思考一整个新的工作流程。观看视频，了解提升您的显微能力是多么容易。

提升光学显微镜的能力

由于光学显微镜的分辨率受光的波长限制，因此光学系统在可实现的分辨率上有一个极限。在越来越多的应用中，就需要光学和原子力显微镜的组合。此外，AFM可以无障碍表征透明样品或其他难以光学评估的样品。且不仅仅是样品的形貌：AFM还允许获得其他材料特性的知识，例如，表面粗糙度，硬度变化，磁性或电导/电阻。